当前位置：
微区分析：形貌与结构分析：扫描电镜（SEM）、透射电镜（TEM）、原子力显微镜（AFM）
成分分析：扫描电镜-能谱仪（SEM-EDS)、透射电镜-能谱仪（TEM-EDS）、综合微分析系统（FIB-SEM-Raman-TOF-SIMS)、
电子探针显微分析仪（EPMA）
粒径分析：激光粒度仪（LPSA）、扫描电镜（SEM）、透射电镜（TEM）
结构分析：晶胞参数的晶型分析： X射线衍射仪（XRD）
晶体取向分析： X射线衍射仪（XRD）
物相分析： X射线衍射仪（XRD）
有机官能团分析：核磁共振波谱仪（NMR）、红外光谱仪（IR）
成分分析：无机分析： X射线光电子能谱仪（XPS)、综合微分析系统（FIB-SEM-Raman-TOF-SIMS)、X射线荧光光谱仪（XRF）、
X射线衍射仪（XRD）、原子荧光分光光度计（AFS）、紫外可见分光光度计（UV）、
电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）、原子吸收光谱仪（AAS）
有机分析：核磁共振波谱仪（NMR）、红外光谱仪（IR）、紫外可见分光光度计（UV）、元素分析仪（EA）、
综合微分析系统（FIB-SEM-Raman-TOF-SIMS)、液相色谱仪（LC）、气相色谱仪（GC）、气相色谱-质谱联用仪（GC-MS)
元素定性分析：X射线荧光光谱仪（XRF）、X射线光电子能谱仪（XPS)、扫描电镜-能谱仪（SEM-EDS)、
透射电镜-能谱仪（TEM-EDS）
元素定量分析：X射线荧光光谱仪（XRF）、X射线光电子能谱仪（XPS)、元素分析仪（EA）、电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）、
原子吸收光谱仪（AAS）、原子荧光分光光度计（AFS）
表面分析：元素、结合能、UPS、光催化分析：X射线光电子能谱仪（XPS)
表面性能分析：原子力显微镜（AFM）
表面有机成分分析：综合微分析系统（FIB-SEM-Raman-TOF-SIMS)
热分析： 热稳定性、热分解及热失重、熔点、玻璃化转变温度：同步热分析仪（STA）
离子分析：离子色谱仪（IC）
岩石矿物：岩石物性分析（导热率、岩石孔隙度、渗透率、电阻率、纵向驰豫时间、横向驰豫时间）：
TCS测试仪、覆压条件孔隙度渗透率测量仪、岩心核磁仪、储层条件下毛管压力-电阻率测量系统
矿物微区成分：激光剥蚀（LA-ICP-MS）
年代学分析：裂变径迹仪、激光剥蚀（LA-ICP-MS）
油页岩分析：有机地球化学：岩石热解仪、碳硫仪、气相色谱-质谱联用仪（GC-MS)
水质分析：电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）、原子吸收光谱仪（AAS）、原子荧光分光光度计（AFS）、离子色谱仪（IC）、
紫外可见分光光度计（UV）