常规双倾杆，X方向±25°，Y方向±25°；
EDS：JEOL双能谱，可实现点扫、线扫和面扫；
成像系统：Gatan OneView快速成像相机，
Gatan Quantum Dual EELS；
样品杆：单/双倾杆；
可实现实验模式：HRTEM、SEAD、ADF、HAADF、ABF、STEM-EELS 二次电子成像、EFTEM等。
1.分辨率：STEM <0.058 nm TEM <0.058 nm
2.放大倍数：STEM 100 to 150,000,000x TEM50 to 2,000,000x
3.加速电压： 80,200 kV，300kv
4.配置：冷场发射电子枪（Cold-FEG）；球差校正器double Cs Correctors (Image + Probe)
