JEM-F200是日本电子公司设计开发的新型常规场发射透射电镜，该款电镜在减震系统，电磁场屏蔽等方面较上代产品有显著提升。JEM-F200安装高稳定性、高亮度和高能量分辨率的场发射电子枪。电镜采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lens condenser system”，通过分别控制电子束强度和汇聚角，能满足各种研究的需求。JEM-F200安装两个大口径、分析灵敏度高的硅漂移检测器（SDD），EDS分析速度更快。
该设备可广泛应用于金属、矿物、半导体、陶瓷、生物、高分子、复合材料、催化剂等物质的纳米尺度微分析。
微观结构观察：材料的形貌、结构、缺陷和界面的微观分析，包括TEM、HRTEM；STEM（DF/BF）、电子衍射等。
成分分析：EDS谱仪可进行成分的定性分析，测试项目可选元素的点、线和面分析等。
