场发射透射电镜（JEM-2100F）

JEM-2100F透射电子显微镜是日本电子公司设计生产的一款场发射高分辨透射电子显微镜，加速电压可选160 kV 和200kV。该仪器采用3级聚光镜设计，配备场发射灯丝以及OxfordX-Max-N80T能谱仪；能够在不同加速电压（160 kV，200 kV）下进行成像观察，具备TEM、HRTEM、衍射，STEM（BF/DF）等图像采集功能及EDS成分分析等功能；JEM-2100F可以对样品进行三维重构成像。