JSM-7900F场发射扫描电子显微镜为日本电子新推出的旗舰机型,配有超高分辨减速装置(GB模式和GBSH模式),具有超高的空间分辨率,配有能谱仪和软X射线发射光谐仪,是一款对样品实现图像、成份和价态均可清晰表达的超级分析仪器。适用于纳米技术、金属、半导体、陶瓷及医学生物学等各种领域的研究和检测。
分辨率:0.7nm(15kV),0.7nm(GB模式,1kV),1.1nm(0.5kV)
放大倍数:25-100万倍
加速电压:0.01-30kV
能谱分析元素Be4-U92,能谱分辨率MnKa125eV
软X射线谱仪测量范围:50-210eV,
能量分辨率:0.3eV(费米边处A1-L基准)