该联用系统为TESCAN S9000G FIB-SEM双束电镜,配有WITec alpha300 R 拉曼光谱仪,TESCAN C-TOF飞行时间二次离子质谱仪,牛津能谱仪和CL阴极荧光光谱仪。 可实现对样品在同一视野下进行多种分析,包括微观形貌(SEM)、透射样品制备、纳米加工(FIB-SEM)、元素组成(TOF-SIMS, EDS)以及相和结构(Raman)分析。
分辨率参数:SEM: 0.7nm(15kV),1nm(1kV);
FIB: 2.5nm(30kV);
Raman: XY方向:≤500nm,Z方向:≤1500nm;
TOF-SIMS: 质量范围:1-2500,空间分辨率:XY方向:<40nm;Z方向:<3nm